17.03.10 - Mit der CE-Kennzeichnung bestätigt ein Hersteller, dass seine Produkte geltenden europäischen Vorschriften entsprechen und vorgeschriebenen Konformitätsbewertungsverfahren unterzogen wurden – sowohl bei der Konstruktion als auch der Fertigung. Wo die Tücken der Zertifizierung
liegen, erläutert Frank Sommerrock vom Zentrum für Tests und Zulassungen bei Fujitsu Technology Solutions in Augsburg. weiter

09.03.10 - Der Chiptest für Halbleiteranbieter ist ein kritischer Schritt im Designprozess und nimmt deshalb einen hohen prozentualen Anteil bei den Gesamtkosten innerhalb der Fertigung ein. Automatische Prüfsysteme auf PXI-Basis erlauben es, die Produktionskapazität zu erhöhen. Und das bei gleichbleibender Qualität. weiter

08.03.10 - Das Oszilloskop ist eines der am meisten eingesetzten Messgeräte: Dieser Artikel ist der erste einer dreiteiligen Serie, die grundlegende Kenntnisse über das Arbeitsgerät vermitteln soll. In diesem Teil zeigen wir Ihnen, wie Oszilloskope funktionieren und wie sie verwendet werden, um Signale zu interpretieren und zu messen. weiter

04.03.10 - Die Erkenntnisse aus dem EMV-Prüfzentrum von Mooser EMC Technik fließen sowohl in eigenentwickelte Kundenprojekte als auch für die Weiterentwicklung der nationalen und internationalen Normenarbeit. Getestet werden auf den Prüfständen Hybrid-, Elektro- und Brennstoffzellenantriebe von 0 bis 1 kV, ± 300 A und 100 kW. weiter

26.02.10 - Mit den Modellen HMF-2525 und HMF-2550 von Hameg (Vertrieb: Hames) kommen zwei arbiträre Funktionsgeneratoren heraus, die über eine Wandlerrate von 250 MS/s bei 14 Bit Amplitudenauflösung weiter

22.02.10 - LeCroy hat die Leistungsfähigkeit seiner WaveMaster 830 Zi Echtzeit-Oszilloskope erweitert: Eine neue Option macht es möglich, zwei Oszilloskope zu kombinieren. Mit der Option Zi-8CH-SYNCH können die Oszilloskope auf vier Kanälen Signale mit 20 bis 30 GHz erfassen oder auf acht Kanälen Signale von 4 bis 16 GHz verarbeiten. weiter

18.02.10 - Keithley erweitert mit dem Ultra Fast-I-V-Modul Modell 4225-PMU seine umfassende Palette von Messoptionen für das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS. Mit einem Gerät soll es möglich sein, Bauteile, Materialien und Prozesse zu charakterisieren. weiter

11.02.10 - Von Willtek Communications kommt der 4933 RF Shield, der Strahlungs- und Qualitätsmessungen an großen Funkgeräten, Notebooks und anderen elektronischen Geräten unterstützt. Das Messgerät weiter

11.02.10 - Zum Einsatz in energieeffizienten elektrischen Motorantrieben in Haushaltsanwendungen gibt es von Infineon Technologies eine Familie von Leistungsschaltern mit einer Sperrspannung weiter

11.02.10 - Die fünf DualCool-NexFET-Power-MOSFETs von Texas Instruments bieten laut Hersteller eine bis zu 80% bessere Wärmeabführung und bis zu 50% höhere Stromdichte in Gehäusen mit Standardgröße. weiter