Gepulste Stromversorgung zum Test von Laserdioden und LEDs

Test von Laserdioden unter typischen Fehlerbedingungen

Bereitgestellt von: CompuMess Elektronik GmbH / Jeff Hulett, Werner Bach

Schnelle Ansprechzeit der Stromversorgungen auf Transienten

Das Whitepaper beschreibt typische Treibertechnologien für Multi-Laser-Anwendungen, wie sie in Burn-in- oder Lebensdauertests eingesetzt werden. Es werden mögliche Fehlerbedingungen diskutiert, die für die Stromversorgungen der Laser eine Herausforderung darstellen.

Ein typisches Fehlerszenario wird dargestellt, mit einer gradualen Zunahme der Laser-Impedanz, gefolgt von einem plötzlichen Abfall der Impedanz. Eine Testschaltung mit sechs Lasern und einem MOSFET wird genutzt, um die Auswirkungen auf drei Laser Stromversorgungen zu testen.

Die entsprechenden Spannungs- und Stromspitzen der Stromversorgungen werden dargestellt und die Überschussleistung sowie die an die Laser gelieferte Überschussenergie werden berechnet.

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Publiziert: 27.02.08 | CompuMess Elektronik GmbH / Jeff Hulett, Werner Bach

Anbieter des Whitepapers

CompuMess Elektronik GmbH

Lise-Meitner-Str. 4
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Deutschland