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21.03.2017

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Oszilloskop mit 500 MHz und Funktionsgenerator mit 40 MHz

Die VirtualBench von National Instruments vereint fünf Messgeräte, darunter Oszilloskop und Funktionsgenerator. Das überarbeitete Modell bietet eine analoge Bandbreite von 500 MHz.

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14.03.2017

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NI eröffnet Industrial Internet of Things (IoT) Lab in Austin

National Instruments gab die Eröffnung für das NI Industrial IoT Lab am Stammsitz des Unternehmens in Austin, Texas, bekannt. Das NI Industrial IoT Lab ermöglicht Unternehmen die gemeinsame Entwicklung von Technologien und Lösungen für das industrielle Internet der Dinge.

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09.02.2017

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NI, IBM und SparkCognition arbeiten für Testbed zusammen

National Instruments (NI) gibt die Zusammenarbeit mit SparkCognition und IBM am Condition Monitoring and Predictive Maintenance Testbed bekannt. Da in vielen Industriebereichen, u. a. bei Schwermaschinen, in der Stromerzeugung und in der Prozessfertigung, bessere Verfahren benöti...

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10.01.2017

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Auf dem Weg in die Fabrik der Zukunft

Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director bei National Instruments, entwirft eine Vision der Industrie von morgen und der Mess-, Steuerungs- und Regeltechnik, die sie stützt.

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10.01.2017

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Auf dem Weg in die Fabrik der Zukunft

Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director bei National Instruments, entwirft eine Vision der Industrie von morgen und der Mess-, Steuerungs- und Regeltechnik, die sie stützt.

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10.01.2017

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Eine Plattform analysiert Krankheitserreger in kurzer Zeit

Krankheitserreger innerhalb kurzer Zeit und gleichzeitig kostengünstig nachzuweisen wird in einer globalen Welt immer wichtiger. Die weltweit schnellste Methode anhand eines Tropfen Bluts hat ein französisches Start-up entwickelt.

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14.12.2016

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Oszilloskop PXIe-5164 lässt sich mit FPGA konfigurieren

Das PXIe-5164 ist ein rekonfigurierbares Oszilloskop mit zwei Kanälen mit jeweils 1 GS/s und einer Bandbreite von 400 MHz. Abgetastet werden die Signale mit 14 Bit.

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28.11.2016

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Gemeinsamer Standard für IIoT-Anwendungen

OPC UA TSN: Hinter der kryptischen Abkürzung verbirgt sich das neue, einheitliche Kommunikationsprotokoll im Industrial Internet of Things (IIoT). Auf der SPS/IPC/Drives verpflichteten sich elf Partnerunternehmen offiziell dem Standard.

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25.11.2016

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Führende Hersteller unterstützen den Standard OPC UA TSN

Auf der Messe SPS IPC Drives gaben ABB, Bosch Rexroth, B&R, Cisco, General Electric, Kuka, National Instruments (NI), Parker Hannifin, Schneider Electric, SEW-Eurodrive und TTTech bekannt, dass sie gemeinsam OPC UA over Time Sensitive Networking (TSN) als die Standard- Kommun...

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24.11.2016

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Mit FPGAs lässt sich Leistungselektronik schneller entwickeln

Eine strategische Zusammenarbeit planen National Instruments und Semikron: Die Zusammenarbeit zielt darauf ab, dass der Entwicklungs- und Implementierungsaufwand für Stromrichter auf ein Viertel gesenkt werden kann. Eine wichtige Rolle spielen FPGAs.

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23.11.2016

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OPC UA TSN bekommt starke Rückendeckung aus der Industrie

Um OPC UA TSN als einheitliches Protokoll für die Kommunikation im Industrial Internet of Things (IIoT) zu forcieren, gehen verschiedene Firmen aus der Automatisierungs- und Informationstechnik gemeinsame Wege.

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31.10.2016

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„Disruption“ in der Messtechnik verändert einen ganzen Markt

Die Digitalisierung verändert die Welt und Branche für Branche werden auf den Kopf gestellt. Man spricht von Disruption. Was das genau bedeutet, erklärt Rahman Jamal von National Instruments.

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31.10.2016

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21. VIP-Kongress: Internet der Dinge ist in der Praxis angekommen

Längst hat er sich als Plattform für Entwickler, Hersteller und Anwender etabliert: Der Kongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis 2016“ von National Instruments bot auch dieses Jahr wieder einen regen Austausch zu Industrie-Themen rund ums Messen, Automatisieren und Embedded....

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17.10.2016

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Von der Zukunft smarter Testsysteme

Auf der NIWeek 2016 gaben disruptive Technologien für Test-, Mess-, Steuer- und Regelsysteme auf Basis einer Plattform mit vitalem Ökosystem den Ton an. Doch was bedeutet das konkret?

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17.10.2016

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Von der Zukunft smarter Testsysteme

Auf der NIWeek 2016 gaben disruptive Technologien für Test-, Mess-, Steuer- und Regelsysteme auf Basis einer Plattform mit vitalem Ökosystem den Ton an. Doch was bedeutet das konkret?

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26.09.2016

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Vereinfachter Entwurf von Embedded-Systemen mit CompactRIO

In diesem Beitrag erfahren Sie mehr über vielfältige Funktionen der Plattform CompactRIO, die es ermöglicht, den Entwurf von Embedded-Systemen zu vereinfachen und innovative Entwürfe schneller auf den Markt zu bringen.

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26.09.2016

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Vereinfachter Entwurf von Embedded-Systemen mit CompactRIO

In diesem Beitrag erfahren Sie mehr über vielfältigen Funktionen der Plattform CompactRIO, die es ermöglicht, den Entwurf von Embedded-Systemen zu vereinfachen und innovative Entwürfe schneller auf den Markt zu bringen.

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19.09.2016

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Vereinfacht mit LabVIEW 2016

National Instruments (NI) stellt die Systemdesignsoftware LabView 2016 vor, die eine vereinfachte Anwendungsentwicklung und effizientere Integration von Software aus dem NI-Ökosystem ermöglicht. Diese Version bietet jetzt Kanalverbindungen, mit denen sich der komplexe Datenaustau...

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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01.09.2016

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Eine flexible Prüflösung für drahtlose Kommunikationsstandards

Im Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation von National Instruments arbeitet ein leistungsstärkerer FPGA. Die Prüflösung ist vor allem für die drahtlose Kommunikation interessant.

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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23.08.2016

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21. VIP Kongress im Oktober wirft seine Schatten voraus

Vom 26. bis 28. Oktober lädt National Instruments zu seinem 21. VIP Kongress. Die Teilnehmer können sich an zwei Kongresstagen inklusive Ausstellung über die aktuellen Entwicklungen informieren.

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22.08.2016

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Wie ein FPGA die optische Inspektion beschleunigen kann

Ein schnellerer Testdurchsatz bei der optischen Inspektion ist dank besserer Prozessoren kein Problem. Zudem wird die Bildverarbeitung bei der Inspektion dank FPGAs effizienter.

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28.07.2016

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Vektorsignal-Transceiver für anspruchsvolle RF-Prüfanwendungen optimiert

Um den komplexen und rasch wechselnden Prüfanforderungen im RF-Bereich gerecht zu werden, stellt National Instruments einen Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation vor. Neben einer fünffachen Bandbreite und 33 Prozent weniger Platzbedarf lässt sich der größere FPGA indivi...

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12.07.2016

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Zweite Generation des Vektorsignal-Transceivers für schnellere HF-Tests

Mit dem NI PXIe-5840 präsentiert National Instruments die zweite Generation seines Vektorsignal-Transceivers. Neben einer höheren Bandbreite ist es der verbaute FPGA, mit dem sich eine individuelle Programmierung umsetzen lässt.

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01.07.2016

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Aktuelle Technologie-Trends in der Mess- und Prüftechnik als kostenloser Report

Der jährliche Automated Test Outlook von National Instruments berichtet über die wichtigsten Trends und Methoden in der Mess- und Prüftechnologie. Besondere Erkenntnisse 2016: der Einfluss mobiler Geräte sowie Empfehlungen, wie Unternehmen durch Optimierung der Prüfabteilungen We...

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30.06.2016

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Die Vorteile einer offenen Plattform für die Messtechnik

Wie werden die komplexen und smarten Geräte des Internet der Dinge getestet? Zur Auswahl stehen geschlossene Boxmesssysteme oder eine Plattform mit modularer Hardware und flexibler Software.

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29.06.2016

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Für die vernetzte Produktion sollten alle an einem Strang ziehen

Die Schlagworte Internet of Things und Industrie 4.0 sind allerorten präsent und begleiten uns weiter. Ziel ist die global vernetzte Produktion, über alle Grenzen hinweg. Die Entstehung neuer digitaler Plattformen für Fabriken führt zu der Frage, auf was sich die Unternehmen denn...

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28.06.2016

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Wie sich Scheinwerfer automatisiert testen und validieren lassen

Mit dem AED-Scheinwerfertestsystem lassen sich Scheinwerfer als Gesamtsystem unter realistischen Bedingungen validieren. Zum Einsatz kommt VeriStand von National Instruments.

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21.06.2016

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Für die vernetzte Produktion sollten alle an einem Strang ziehen

Die Schlagworte Internet of Things und Industrie 4.0 sind allerorten präsent und begleiten uns weiter. Ziel ist die global vernetzte Produktion, über alle Grenzen hinweg. Die Entstehung neuer digitaler Plattformen für Fabriken führt zu der Frage, auf was sich die Unternehmen denn...

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21.06.2016

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Für die vernetzte Produktion sollten alle an einem Strang ziehen

Die Schlagworte Internet of Things und Industrie 4.0 sind allerorten präsent und begleiten uns weiter. Ziel ist die global vernetzte Produktion, über alle Grenzen hinweg. Die Entstehung neuer digitaler Plattformen für Fabriken führt zu der Frage, auf was sich die Unternehmen denn...

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24.05.2016

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Steckmodul misst Spannungen mit Genauigkeit von 15 ppm

Ein Digitalmultimeter auf Basis von PXI-Express hat National Instruments mit dem PXIe-4081 vorgestellt. Dank Auflösung und Isolierung eignet es sich für Prüfanwendungen. Die kalibrierte Genauigkeit von 15 ppm ist für zwei Jahre garantiert.

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10.05.2016

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Testbed kann LTE-U und LTE-LAA testen

National Instruments hat ein System vorgestellt, mit dem sich LTE Unlicensed (LTE-U) und LTE License Assisted Access (LTE-LAA) testen und Prototypen erstellen lassen. Das Testbed für die Wireless-Technologien soll die Netze verbessern und entlasten.

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06.05.2016

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Technologieausblick unterstreicht Bedarf für intelligentere Prüfsysteme

National Instruments hat den Automated Test Outlook 2016 veröffentlicht. Der jährlich erscheinende Technologieausblick gibt einen Überblick über die wichtigsten Trends und Entwicklungen, die die Prüftechnikbranche insbesondere aufgrund der steigenden Anzahl an vernetzten Geräten ...

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29.04.2016

Produkte

Hardware Messung und Automatisierung: Datenerfassung

Messen Sie elektrische oder physikalische Signale von unterschiedlichen Sensoren aus.

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28.04.2016

Produkte

Hardware Messung und Automatisierung: Messgeräte

Messen und erzeugen Sie elektrische Signale von einem Prüfling aus.

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28.04.2016

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27.04.2016

Produkte

Hardware Messung und Automatisierung: Embedded-Hardware für Steuerung, Regelung und Überwachung

Erstellen Sie Prototypen komplexer Steuer-, Regel- und Überwachungsanwendungen und setzen Sie diese anschließend auf robuster und rekonfigurierbarer Hardware ein.

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27.04.2016

Veranstaltungen

Seminar: Flexible Messsysteme mit der NI Datenerfassungsplattform

09.06.2016 - 23.06.2016

Veranstaltungsort: München, Neu-Ulm, Hannover, Villingen-Schwenningen

Flexible Messsysteme mit der NI-Datenerfassungsplattform Erstellen Sie praxisnah und in kurzer Zeit ein flexibles Messsystem mit der Unterstützung unserer NI-Ingenieure Unsere Experten zeigen Ihnen, wie Sie praxisnah und in kurzer Zeit ein flexibles Messsystem zur Datenerfassu

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