Prüfplattform für den Bauteiletest

Die programmierbare Testumgebung aus Stand-Alone- und JTAG-Test

14.04.17 | Redakteur: Hendrik Härter

Peter van den Eijnden, Mitbegründer und Geschäftsführer von JTAG Technologies in Eindhoven: „Durch die Kombination erreichen wir eine höhere Testabdeckung mit verbesserter Diagnostik.“
Peter van den Eijnden, Mitbegründer und Geschäftsführer von JTAG Technologies in Eindhoven: „Durch die Kombination erreichen wir eine höhere Testabdeckung mit verbesserter Diagnostik.“ (Bild: JTAG Technologies)

Mit nur einer Prüfplattform soll es möglich sein, die Fehlerabdeckung und Diagnostik bei allen Platinentypen zu verbessern. Wie das geht, darüber haben wir mit Peter van den Eijnden gesprochen.

Eine Kombination aus Carrier Board und JT 5705/FXT ermöglicht es dem Anwender, auf einer standardmäßigen Platine sowohl analoge als auch digitale Peripheriegeräte zu testen. Dabei ist es kein Problem, eine oder mehrere Betriebsspannungen vor dem eigentlichen Boundary-Scan-Test zu überprüfen.

Programmieren lässt sich die Anwendung über Mikroprozessor, Flash oder FPGA. Über Vorteile und Möglichkeiten der Testumgebung sprachen wir mit Peter van den Eijnden, Mitbegründer und Geschäftsführer von JTAG Technologies in Eindhoven.

Herr van den Eijnden, JTAG Technologies hat gemeinsam mit mehreren führenden Adapterherstellern eine Lösung entwickelt, um die Hardware von JTAG zu integrieren. Was diente als Grundlage und welche Vorteile können Anwender erwarten?

Diese Entwicklung basiert auf unserem JT 5705/FXT Mixed I/O Controller. TAP-Signale und I/O-Kanäle werden über den Standardschnittstellenblock an die Übergabeschnittstelle des Adapters geführt und stehen somit zur Kontaktierung des Prüflings an der Nadel zur Verfügung.

Wie würden Sie die Kombination aus Mixed-I/O-Controller des Typs JT 5705 und einer Prüfadapter charakterisieren und welche Möglichkeiten bietet sie?

Diese Kombination bietet einen eigenständigen Prüfstand beim Test und Programmierung. Mit den Testfunktionen dieses Testsystems können Herstellungsfehler, wie beispielsweise Kurzschlüsse oder offene Verbindungen, sowohl in analogen als auch in digitalen Schaltkreisen gefunden und diagnostiziert werden.

Wie können Anwender von der Möglichkeit der Baugruppenprogrammierung profitieren?

Mit der erweiterten Programmierfunktion können Anwender außerdem noch Mikroprozessoren, Flash-Speichern (intern/extern) und FPGAs programmieren. Das eröffnet weitere interessante Möglichkeiten neben dem Test.

Viele Baugruppen sind nicht rein digital. Wie sehen Sie das Zusammenspiel zwischen den analogen und digitalen Schaltungsteilen einer modernen Baugruppe?

Der Mixed-I/O-Controller JT 5705 verbindet die digitale und analoge Welt. Die Grundlage sind zwei Standard-Boundary-Scan-Ports (TAPs) in Kombination mit 64 multifunktionalen I/O-Kanälen. Acht der 64 Kanäle können sowohl für analoge wie auch für digitale Funktionen verwendet werden.

Neben dem Schreiben und Lesen digitaler Signale, erlauben einige der multifunktionalen Pins es, Frequenzen oder die Pulsbreite zu messen. Darüber hinaus kann ein I/O als programmierbarer Taktgenerator verwendet werden.

Wie können Sie kundenspezifische Applikationen adressieren?

Dank der FPGA-Technologie im I/O-System des JT 5705/FXT-Moduls können diese auch für benutzerdefinierte Anforderungen rekonfiguriert werden.

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