Live-Webinar

Die EMV-Fehlersuche mit einem digitalen Oszilloskop

24.04.14 | Redakteur: Hendrik Härter

Live-Webinar am 29. April um 11 Uhr: "EMV Fehleranalyse mit digitalen Oszilloskopen von Rohde & Schwarz".
Live-Webinar am 29. April um 11 Uhr: "EMV Fehleranalyse mit digitalen Oszilloskopen von Rohde & Schwarz". (Rohde & Schwarz)

Am 29. April um 11 Uhr veranstaltet die ELEKTRONIKPRAXIS zusammen mit Rohde & Schwarz ein kostenloses Live-Webinar zum Thema EMV-Fehlersuche mit einem Oszilloskop.

In unserem knapp einstündigen Webinar lernen Sie, wie sich mit der leistungsfähigen FFT-Funktion der digitalen Oszilloskop-Serien RTE und RTO von Rohde & Schwarz in Kombination mit Nahfeldsonden EMV-Probleme in einem Embedded-Design analysieren lassen. Denn gesetzliche Regelungen in allen Wirtschaftsräumen fordern für jedes elektrische oder elektronische Gerät EMV-Konformität. Damit wird sichergestellt, dass die Funktion oder auch der Funkempfang anderer Geräte nicht gestört wird. Die EMV-Konformität stellt eine zusätzliche Hürde in der Produktentwicklung und führt häufig zu unerwünschten Produktverzögerungen.

Am 21. Mai in die Welt der Oszilloskope eintauchen

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17.04.14 - Vier namhafte Hersteller werden am 21. Mai in Würzburg sowohl theoretisch als auch praktisch die aktuellen Möglichkeiten eines Oszilloskops präsentieren. Und Sie haben die Möglichkeit, Ihr Wissen aufzufrischen und die Geräte in Aktion zu erleben. lesen

Mit Hilfe der implementierten FFT (Fast-Fourier-Transformation-)Funktion in moderne Oszilloskope ist eine schnelle Update-Rate der Spektralanzeige möglich. Zudem bietet die Funktion durch überlappende FFT-Segmente und die farbkodierte Darstellung einen Einblick in die Zeit-Frequenz-Struktur von unerwünschten Emissionen. In Kombination mit Nahfeldsonden kann der Entwickler die Quelle von Störemissionen auf Leiterplatten lokalisieren und Abhilfemaßnahmen untersuchen. Damit können im Nachgang, aber auch im Vorfeld von EMV-Konformitätstests, EMV-Probleme analysiert und Gegenmaßnahmen untersucht werden.

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