Top-Technik-Story

Wie ein FPGA die optische Inspektion beschleunigen kann

Bildverarbeitung

Wie ein FPGA die optische Inspektion beschleunigen kann

Ein schnellerer Testdurchsatz bei der optischen Inspektion ist dank besserer Prozessoren kein Problem. Zudem wird die Bildverarbeitung bei der Inspektion dank FPGAs effizienter. lesen

Empfehlung der Redaktion

Digitizer mit 24-Bit-Auflösung und 40 MS/s für 250 V und 2 A

High-Speed Multi-Measurement Device

Digitizer mit 24-Bit-Auflösung und 40 MS/s für 250 V und 2 A

VX Instruments erweitert ihr Produktportfolio um die Familie PXM782x Multi-Measurement Device. lesen

Aktuellste Fachbeiträge

So testen Sie Kabel von USB Typ C mit Betriebsart DisplayPort

Netzwerkanalyse

So testen Sie Kabel von USB Typ C mit Betriebsart DisplayPort

Über USB-Kabel vom Typ C lassen sich auch Videosignale übertragen. Dazu ist die Betriebsart DisplayPort vorgesehen. Unser Beitrag zeigt, wie sich dieser Typ Kabel testen lässt und worauf zu achten ist. lesen

HP begann in Deutschland in einer Textilfabrik

Meilensteine der Elektronik

HP begann in Deutschland in einer Textilfabrik

Die Geschichte von Keysight geht über Agilent bis HP und den beiden Gründerväter William Hewlett und David Packard in ihrer Garage in Palo Alto. In Deutschland startete HP 1959 in einer Textilfabrik vertreten. lesen

Vor 70 Jahren: Erstes Oszilloskop mit Trigger auf Zeitbasis

Meilensteine der Elektronik

Vor 70 Jahren: Erstes Oszilloskop mit Trigger auf Zeitbasis

Bei vielen Oszilloskop-Entwicklungen war Tektronix führend. Doch neben dem Erfindergeist seiner beiden Gründer war auch der Geschäftssinn entscheidend für den Erfolg. lesen

Aus einem Waschsalon zu einem Technologieführer

Meilensteine der Elektronik

Aus einem Waschsalon zu einem Technologieführer

Walter LeCroy startete seine Karriere 1964 als Unternehmer in einem ehemaligen Waschsalon mit Geräten für die Hochenergiephysik. Heute liegt der Schwerpunkt des Unternehmens auf digitalen Oszilloskopen. lesen

Digitalisieren von Messwerten und was dahinter steckt

Messtechnik

Digitalisieren von Messwerten und was dahinter steckt

Messsysteme sind mit A/D-Wandlern ausgestattet, die analoge Werte in digitale transformieren. Unser Beitrag zeigt wichtige Grundlagen, um analoge Messwerte zu digitalisieren. lesen

Aktuelle Technologie-Trends in der Mess- und Prüftechnik als kostenloser Report

NI Automated Test Outlook 2016

Aktuelle Technologie-Trends in der Mess- und Prüftechnik als kostenloser Report

Der jährliche Automated Test Outlook von National Instruments berichtet über die wichtigsten Trends und Methoden in der Mess- und Prüftechnologie. Besondere Erkenntnisse 2016: der Einfluss mobiler Geräte sowie Empfehlungen, wie Unternehmen durch Optimierung der Prüfabteilungen Wettbewerbsvorteile erlangen können. lesen

Wie sich Scheinwerfer automatisiert testen und validieren lassen

Echtzeitanwendungen konfigurieren

Wie sich Scheinwerfer automatisiert testen und validieren lassen

Mit dem AED-Scheinwerfertestsystem lassen sich Scheinwerfer als Gesamtsystem unter realistischen Bedingungen validieren. Zum Einsatz kommt VeriStand von National Instruments. lesen

Vom Allwellenfrequenzmesser zum HF-Präzisionsmessgerät

Meilensteine der Elektronik

Vom Allwellenfrequenzmesser zum HF-Präzisionsmessgerät

Mit dem Studium bei einem Pionier der Hochfrequenztechnik und ihren Entwicklungen zur Hochfrequenz-Messtechnik legten Lothar Rohde und Hermann Schwarz den Grundstein für die HF-Messtechnik. lesen

News

21. VIP Kongress im Oktober wirft seine Schatten voraus

National Instruments

21. VIP Kongress im Oktober wirft seine Schatten voraus

23.08.16 - Vom 26. bis 28. Oktober lädt National Instruments zu seinem 21. VIP Kongress. Die Teilnehmer können sich an zwei Kongresstagen inklusive Ausstellung über die aktuellen Entwicklungen informieren. lesen

Teledyne LeCroy bündelt seine Kräfte in Heidelberg

Neue Europazentrale

Teledyne LeCroy bündelt seine Kräfte in Heidelberg

19.08.16 - Seit Anfang August hat der US-amerikanische Oszilloskop-Spezialist Teledyne LeCroy seine Europazentrale in Deutschland. Damit unterstreicht das Unternehmen die Wichtigkeit des deutschen Marktes. lesen

Sensoren zeigen freie Parkflächen an

Schlaues Parken in Städten

Sensoren zeigen freie Parkflächen an

16.08.16 - Vernetzte Sensoren im Asphalt zeigen in Echtzeit an, wo gerade ein Parkplatz frei ist. Künftig sollen sich mit den Daten auch Belegungsprognosen ermitteln lassen, um freie Parkplätze künftig effizienter zu finden. lesen

Mehr Besucher und Aussteller kamen nach Nürnberg

Sensor+Test 2016

Mehr Besucher und Aussteller kamen nach Nürnberg

12.08.16 - Auf der diesjährigen Sensor+Test in Nürnberg konnten mehr Besucher und Aussteller begrüßt werden. Ein Grund war der Umzug in neue Hallen. lesen

Standalone-System für den dauerhaften Feldeinsatz

Schwingungsüberwachung

Standalone-System für den dauerhaften Feldeinsatz

23.08.16 - Mit dem Standalone-Messsystem lassen sich im industriellen Umfeld Schwingungen überwachen. Dabei setzt das System auf vollständige Integration und Automation. lesen

Produktneuheiten

Sinusschwingungen von DC bis 4,05 GHz

HF-Generator

Sinusschwingungen von DC bis 4,05 GHz

23.08.16 - In der Standardversion sind Sinusschwingungen von DC bis 4,05 GHz möglich. Optional bietet der Hersteller mit eiem Frequenzverdoppler 8,1 GHz. lesen

LCR-Meter misst von 1 mOhm bis 10 GOhm

Impedanzanalysator

LCR-Meter misst von 1 mOhm bis 10 GOhm

22.08.16 - Der MFIA Impedanzanalysator von Zurich Instruments misst Impedanzen von 1 mOhm bis 10 GOhm bei Frequenzen von 1 Hz bis 5 MHz. lesen

Einschwingzeit der M9111A weniger als 1 Millisekunde

PXI-Express SMU

Einschwingzeit der M9111A weniger als 1 Millisekunde

22.08.16 - Die M9111A von Keysight ist eine SMU im PXI-Express-Format. lesen

Einblick in Halbleiter-Bauteile, Materialien und Prozesse

Parameter-Analysator

Einblick in Halbleiter-Bauteile, Materialien und Prozesse

22.08.16 - Das 4200A-SCS von Tektronix basiert auf dem Parameter-Analysator Keithley 4200-SCS: Neben der überarbeiteten grafischen Bedienoberfläche bietet der Analysator hilfreiche Tools zum Selbstlernen. lesen

Trigger- und Dekodier-Option für Oszilloskop-Serie R&S RTO2000

MIPI-M-PHY-Schnittstellen

Trigger- und Dekodier-Option für Oszilloskop-Serie R&S RTO2000

22.08.16 - Die R&S RTO-K44 Option von Rohde & Schwarz bietet Trigger- und Dekodierfunktionen für die Fehlersuche bei Designs mit MIPI-M-PHY-basierten Protokollen. lesen

Trendreport Mess- & Prüftechnik

Was Sie als Leuchtenentwickler über die LED wissen sollten

Sponsored by NI

Automated Test Outlook

Der jährlich erscheinende Technologieausblick von NI gibt einen Überblick über die wichtigsten Trends und Entwicklungen in der Prüftechnikbranche. Zum Beispiel: Wie werden vernetzte Geräte die Zukunft beeinflussen? Hier geht's zum Automated Test Outlook!

 
ELEKTRONIKPRAXIS täglich 14 Uhr

News und Fachwissen für die professionelle Elektronikentwicklung - incl. ausgewählte dpa-Select News

* Ich bin mit der Verarbeitung und Nutzung meiner Daten gemäß Einwilligungserklärung und AGB einverstanden.
Spamschutz:
Bitte geben Sie das Ergebnis der Rechenaufgabe (Addition) ein.