Top-Story Messen & Testen

EMV verstehen heißt EMV-gerecht entwickeln

EMV-Praxis 2016

EMV verstehen heißt EMV-gerecht entwickeln

Häufig wird erst mal „drauflos entwickelt“ und zum Schluss geht's zum EMV-Test. Dort erfährt man so einiges über EMV-Normen, Prüfaufbau und Grenzwerte. Dann folgen Re-Designs, oftmals mit Abschirmung, Ferriten, Kabelschirmen & Co. Es geht auch einfacher, schneller und günstiger: www.emv-praxis.de lesen...

Aktuelle Meldungen

Forscher entwickeln weltweit genaueste optische Einzelionen-Uhr

Messtechnik extrem

Forscher entwickeln weltweit genaueste optische Einzelionen-Uhr

Forscher der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt haben eine optische Einzelionen-Uhr gebaut, die allerdings eine bisher nur theoretisch vorhergesagte Genauigkeit erreicht. Die optische Ytterbium-Uhr erreicht eine relative systematische Messunsicherheit von 3 x 10-18 lesen...

Rohde & Schwarz will bei der Cybersecurity europaweit Führungsrolle einnehmen

Informations- und Netzwerksicherheit

Rohde & Schwarz will bei der Cybersecurity europaweit Führungsrolle einnehmen

Der Technologiekonzern Rohde & Schwarz bündelt seine Aktivitäten bei der Informations- und Netzwerksicherheit. Der Unternehmensbereich Cybersecurity soll der zentrale europäische Lösungsanbieter werden. lesen...

Kleiner Sensor für Bypass-Konfigurationen

Differenzdrucksensor in der Medizin

Kleiner Sensor für Bypass-Konfigurationen

Die Sensor-Familie SDP3x von Sensirion gibt es sowohl mit digitaler als auch analoger Schnittstelle. Der Sensor ist nicht nur langzeitstabil, sondern misst auch nur 5 mm x 8 mm x 5 mm. lesen...

Software unterstützt Kalibrierlabore beim Qualitätsmanagement

DIN-Norm EN ISO 9001:2015

Software unterstützt Kalibrierlabore beim Qualitätsmanagement

Kalibrierlabore müssen die DIN-Norm EN ISO 9001:2015 umsetzen. Hilfe bekommen sie von einer Software, die bei der Kalibtrierung unterstützt und den Kalibrierschein erstellt. lesen...

Empfehlungen der Redaktion

PC-basierte Messlösung mit USB 3.0

Bus- und Logikanalysatoren

PC-basierte Messlösung mit USB 3.0

Die Bus- und Logikanalysatoren der Serie TravelBus von hacker bieten eine Bandbreite von 200 MHz und analysieren verschiedene Bussysteme. Sie werden via USB 3.0 direkt mit einem PC verbunden. lesen...

Fachwissen

Flugzeugturbinen mit einer Wärmebildkamera untersuchen

Hochgenaue Inspektion

Flugzeugturbinen mit einer Wärmebildkamera untersuchen

Die Thermografie hilft Wissenschaftlern, die Produktionsprozesse von Flugzeugturbinen zu verstehen und so Bedingungen zu schaffen, damit sich hohe Qualitätstandards definieren lassen. lesen...

Mit Nahfeldsonden eine LVDS-Verbindung entstören

Praxistipp EMV

Mit Nahfeldsonden eine LVDS-Verbindung entstören

Die Treiber und Empfänger der Hochgeschwindigkeits-Schnittstelle LVDS können Störungen aussenden. Mit einer Nahfeldsonde kann der Testingenieur die Schnittstellen untersuchen und Gegenmaßnahmen einleiten. lesen...

Das Testsystem garantiert beste Unterhaltung an Bord

Multimedia im Auto

Das Testsystem garantiert beste Unterhaltung an Bord

Wer in ein Auto der Ober- und Mittelklasse steigt, den erwartet ein ausgeklügeltes Infotainment-System. Damit alles reibungslos funktioniert, müssen die Systeme genauestens geprüft werden. lesen...

Tastköpfe und Sensoren im Einsatz mit modularen Digitizern

Modulare Messtechnik

Tastköpfe und Sensoren im Einsatz mit modularen Digitizern

Wie lassen sich Tastköpfe und Sensoren mit modularen Digitizern korrekt verwenden? Wir betrachten verschiedene Arten von Tastköpfen und wie die Sensoren korrekt angeschlossen werden. lesen...

Präzises und quasi verlustfreies Messen aller Stromformen

Stromsensoren

Präzises und quasi verlustfreies Messen aller Stromformen

In der Leistungselektronik wird die Messung von Strömen jenseits einiger 100 A immer wichtiger. Genaue Messergebnisse liefert das Prinzip des Kompensations-Stromsensors mit Magnetsonde. lesen...

Die Auswahl des Thermopapiers für die Industrie

Testsystem für den Thermodruck

Die Auswahl des Thermopapiers für die Industrie

Das Zusammenspiel von Thermopapier und Drucker entscheidet über die Qualität des Ausdrucks. Wir schauen uns beide Seiten an und stellen ein Testsystem für den Thermodruck vor. lesen...

Whitepaper

eBook Understanding IMS

Grenzen bei Tests im LTE-Advanced-Netz verschieben

Lernen Sie von Experten für LTE-Testverfahren: Das Handbuch "Understanding IMS" gibt einen Überblick in Bezug auf die wichtigsten zu testenden Baugruppen, wenn IMS-Tests an Teilnehmerendgeräten durchgeführt werden. lesen...

Design-Tipps

Was bei ESD wirklich passiert

ESD und EMV

Was bei ESD wirklich passiert

Bei ESD-Prüfungen sind zuweilen „seltsame“ Effekte zu beobachten. Seltsam deshalb, weil oftmals nicht klar erkennbar ist, auf welchem Wege das ESD-Ereignis den beobachteten Störeffekt auslöst. In diesem Beitrag werden Kopplungsvorgänge mit Hilfe von Zeitbereichssimulationen (HFSS/AEDT) „sichtbar“ gemacht, um ein besseres Verständnis zu ermöglichen. lesen...

EMV-Fehleranalyse mit digitalen Oszilloskopen

Webinar-Tipp

EMV-Fehleranalyse mit digitalen Oszilloskopen

In der Aufzeichnung des gemeinsamen, kostenfreien Webinars von ELEKTRONIKPRAXIS Akademie und Rohde & Schwarz zum Thema EMV-Konformität lernen Sie, wie mit der Fast-Fourier-Transformation-Funktion digitaler Oszilloskope in Kombination mit Nahfeldsonden EMV-Probleme in Embedded Designs analysiert werden können. lesen...

Mixed-Signal-ICs und Baugruppen auf Basis von PCI/PXI-Technik flexibel testen

Serie LabVIEW in der Praxis

Mixed-Signal-ICs und Baugruppen auf Basis von PCI/PXI-Technik flexibel testen

Sensorische Schaltkreise oder Baugruppen werden mit verschiedenen analogen und digitalen Signalen getestet. Das Testsystem lässt sich dabei applikationsspezifisch bestücken und konfigurieren. Mit LabVIEW wurde ein Instrumenten-Management (idLAB) entwickelt, das jedes Instrument tabellarisch parametrieren kann. Wir stellen Ihnen das System am Beispiel von Bildsensoren vor. lesen...

Produktneuheiten

Abtastköpfe bieten eine Positionsabweichung <0,3 µm

Längen- und Winkelmesssysteme

Abtastköpfe bieten eine Positionsabweichung <0,3 µm

Eine neue Generation eines absoluten und inkrementellen Längen- und Winkelmesssystems stellt AMO Messsysteme vor: Alle rotativen oder linearen Abtastköpfe wurden mit einer neuen Auswerteelektronik versehen und die Positionsabweichung liegt bei <0,3 µm innerhalb einer Signalperiode. lesen...

WISE-4000 erfasst Daten dezentral und schickt sie in die Cloud

WLAN-fähiges I/O-Modul

WISE-4000 erfasst Daten dezentral und schickt sie in die Cloud

Mit der Serie WISE-4000 von Advantech (Vertrieb: AMC) ist es möglich, über ein WLAN-fähiges I/O-Modul dezentral Daten zu erfassen und diese direkt in die Cloud zu senden. lesen...

Drei Module zum Testen optischer Komponenten

Messen von Spektren

Drei Module zum Testen optischer Komponenten

Drei Module für das optische Messsystem Keysight 8164B bringt der Messtechnikspezialist mit den abstimmbaren Lasersignalquellen 81607A, 81608A und 81609A auf den Markt. lesen...

Einstiegsgeräte mit Bandbreiten von 1,5 bis 3 GHz

HF-Signalgeneratoren

Einstiegsgeräte mit Bandbreiten von 1,5 bis 3 GHz

Die HF-Signalgeneratoren der Serie DSG800 von Rigol bieten Bandbreiten von 1,5 bis 3 GHz und richten sich an Kunden, die Geräte für Wireless-Kommunikation oder Audio/Video-Broadcasting bauen. lesen...

Traffic generieren und analysieren bis 16 GT/s

Testsystem für PCI-Express

Traffic generieren und analysieren bis 16 GT/s

Mit dem Protokoll-Analyzer und -Exerciser Summit Z416 von Teledyne LeCroy steht Entwicklern von Treibern und Firmware ein Werkzeug zur Verfügung, das die serielle Datenkommunikation zwischen den Geräten analysiert. lesen...

3D-Oberflächenmesstechnik für die MEMS- und Wafer-Produktion

Wafer-Inspektrion

3D-Oberflächenmesstechnik für die MEMS- und Wafer-Produktion

Confovis präsentiert das Wafer-Messsystem ConfoDisc CL200/CL300. Dieses misst vollautomatisiert Geometrie-Elemente und Critical Dimensions, wie z.B. von TSVs und stellt diese zwei- und dreidimensional dar. lesen...

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ELEKTRONIKPRAXIS 3/2016

ELEKTRONIKPRAXIS 3/2016

Verbessertes EMV-Verständnis durch Simulation

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Meilensteine der Elektronik
Takt-ICs mit integriertem Quarz

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Embedded Software Engineering

Embedded Software Engineering

Fehlende Standards bremsen das Internet der Dinge

Weitere Themen:

Neuer Ansatz zur Versionierung von Softwaremodellen
Entwicklung von Cyber Physical Systems

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ELEKTRONIKPRAXIS 2/2016

ELEKTRONIKPRAXIS 2/2016

Vom Halbleiterfertiger zum Innovationspartner

Weitere Themen:

Meilensteine der Elektronik
Frequenzgeregelte Antriebe

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