Fachsymposium
Zuverlässigkeit elektronischer Produkte
26.07.2010 | Redakteur: Kristin Rinortner
Am 15. Juli 2010 fand unter der Motto „Zuverlässigkeit elektronischer Produkte“ ein Fachsymposium der SGS in München statt. Dass die Thematik den Puls der Zeit traf, bestätigte die positive Resonanz der Gäste. Die Veranstaltung war bereits innerhalb kürzester Zeit ausgebucht.
Das SGS Center for Quality Engineering in München öffnete am 15. Juli 2010 erneut seine Labortüren für einen breiten Interessentenkreis. Die Teilnehmerinnen aus unterschiedlichen Industriebereichen, wie Automotive, erneuerbare Energien oder der Elektronikbranche nutzen die Gelegenheiten, sich über Testmethoden zu informieren. Während der ganztägigen Fachveranstaltungen wurde Wissen zu Themen wie Umweltsimulation, Lebensdauertests, Fehler- und Schadensanalytik oder HALT/HASS-Testing vermittelt.
Edwin Dietel von Continental erläuterte sehr anschaulich die Bedürfnisse der Automobilbranche hinsichtlich der Zuverlässigkeit elektronischer Produkte. Mit einem Fachvortrag aus dem Bereich der erneuerbaren Energien zum Thema „Qualitätssicherung und Zuverlässigkeit von Photovoltaik-Modulen“ wurde die Veranstaltung abgerundet. Im Anschluss an die Vorträge konnten EMV- und Umwelt-Labore besichtigt werden.
Kunden und Interessenten bot sich eine gute Plattform, um sich über das Leistungsspektrum der SGS zu informieren. Der direkte Kontakt zu Experten ermöglichte in angenehmer Atmosphäre den Austausch über anstehende Tests, neue Testverfahren oder gesetzliche Erfordernisse zur Einhaltung der Konformitäten.
Die gesamte Veranstaltung wurde nur durch Online-Marketing der Zielgruppe zugänglich gemacht und war innerhalb kurzer Zeit ausgebucht. Die durchweg positive Resonanz bestätigt das Interesse zu derartigen Fachveranstaltungen und der gezielten Wissensvermittlung zu speziellen Fachthemen. Weitere Seminare zu speziellen Fachthemen befinden sich bereits in der Planung.
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